在电子电路领域,MOS 管是一种极为重要的电子元件。2025 年 8 月 3 日消息,本文将以详细图文的形式,为大家深入介绍 MOS 管参数的测试方法。
沟槽式场效应管 Trench MOSFET 作为目前较为常用的金属 - 氧化物半导体场效应晶体管,具有显著的优势。它具备低导通电阻和低栅漏电荷密度的特点,这使得其功率损耗低、开关速度快。而且,由于 Trench MOSFET 属于垂直结构器件,能够进一步提高沟道密度,减少芯片尺寸,从而让功率场效应管的 SMD 微型封装成为现实。
在手机电池保护电路中,常常会用到两个场效应管共漏极使用的 MOSFET。这是因为在手机保护电路中,既需要进行过充检测,也需要进行过放检测。该类 MOSFET 的内部电路结构如下图虚线内所示:

当我们打开该类 MOS 的规格书时,会看到许多相关参数:

接下来,我们详细介绍这些参数的测试方法。需要注意的是,下文中加粗字体为变量,需根据 MOS 规格书来确定实际参数。
按下图连接测试电路,设置 VGS = 0V,VSS1 从 0V 以 0.1V 步增,逐渐增加电压至 IS = 1mA,且 MOS 无损毁,记录 VSS1 的电压。

同时,按下图连接测试电路,设置 VGS = 0V,VSS2 从 0V 以 0.1V 步增,瞬间增加电压至 IS = 1mA,且 MOS 无损毁,记录 VSS2 的电压。

按下图连接测试电路,设置 VSS = 12V,VGS = 0V,记录下 ISSS。

按下图连接测试电路,设置 VSS = 6V,以 0.1V 同步增加 VGS1 的电压,直至 ISS = 1mA,记录下此时 VGS1 的电压,同理测试另一 FET 的 VGS2。

按下图连接测试电路,设置 VSS = 0V,VGS1 = ±8V,记录下 IGSS1,同理测试另一 FET 的 IGSS2。

按下图连接测试电路,设置 IS = 6A,分别测试 VGS 等于 4.5V、4.0V、3.8V、3.1V、2.5V 时,S1 与 S2 两端的电压 VS1S2,RSS(on) = VS1S2 / 6A。
按下图连接测试电路,设置 VGS2 = 4.5V,VGS1 = 0V,VS1S2 = 4.5V,IS1S2 = 6A,记录下测试的 VFSS1。同理,设置 VGS1 = 4.5V,VGS2 = 0V,VS2S1 = 4.5V,IS2S1 = 6A,记录下测试的 VFSS2。

综上所述,通过这些详细的测试方法,我们可以准确地获取 MOS 管各项参数,从而更好地了解和应用 MOS 管。这对于电子工程师在电路设计和调试过程中具有重要的指导意义。
关键词:MOS 管